首頁(yè) > 資源中心 > FAQ 1、 文檔目標(biāo)
本文旨在為使用Keil MDK（Microcontroller Development Kit）進(jìn)行嵌入式開(kāi)發(fā)的工程師提供一種詳細(xì)的指導(dǎo)方法，幫助其在調(diào)試過(guò)程中確認(rèn)當(dāng)前程序運(yùn)行狀態(tài)下的函數(shù)調(diào)用鏈和局部變量信息。特別是在實(shí)時(shí)操作系統(tǒng)（RTOS）環(huán)境下，開(kāi)發(fā)者需要明確當(dāng)前任務(wù)的執(zhí)行上下文以及堆棧中的變量分布情況，以快速定位問(wèn)題并優(yōu)化代碼。
通過(guò)本文所述的方法，開(kāi)發(fā)者可以更高效地利用MDK調(diào)試工具的功能，提升調(diào)試效率，減少因堆棧溢出或函數(shù)調(diào)用異常導(dǎo)致的系統(tǒng)崩潰風(fēng)險(xiǎn)。
2、 問(wèn)題場(chǎng)景
在嵌入式開(kāi)發(fā)中，復(fù)雜的應(yīng)用程序通常包含多個(gè)函數(shù)調(diào)用層級(jí)，尤其是在引入實(shí)時(shí)操作系統(tǒng)（如RTX RTOS）后，任務(wù)切換和多線(xiàn)程機(jī)制使得程序執(zhí)行流程更加復(fù)雜。傳統(tǒng)的單步調(diào)試方式雖然能夠逐步跟蹤代碼執(zhí)行，但難以直觀地展示當(dāng)前任務(wù)的函數(shù)調(diào)用關(guān)系以及局部變量的狀態(tài)。
例如，當(dāng)程序運(yùn)行到某一點(diǎn)時(shí)，開(kāi)發(fā)者可能需要確認(rèn)以下信息：
● 當(dāng)前任務(wù)的函數(shù)調(diào)用鏈?zhǔn)鞘裁矗?/span>
● 哪些局部變量已被加載到堆棧中？
● 局部變量的值是否符合預(yù)期？
這些問(wèn)題在調(diào)試過(guò)程中尤為關(guān)鍵，因?yàn)樗鼈冎苯雨P(guān)系到程序的正確性和性能優(yōu)化。然而，手動(dòng)分析堆棧信息不僅耗時(shí)，還容易出錯(cuò)。因此，如何利用Keil MDK提供的工具快速獲取這些信息成為亟待解決的問(wèn)題。
3、軟硬件環(huán)境
1）、軟件版本：Keil MDK 5.38a
2）、電腦環(huán)境：Windows 11
3）、外設(shè)硬件：無(wú)
4、解決方法
1）、在MDK Debug模式下，有一個(gè)Call Stack + Locals窗口，該窗口就是用于顯示當(dāng)前位于堆棧上的對(duì)象。對(duì)于使用RTX-RTOS的應(yīng)用程序，會(huì)顯示任務(wù)。每個(gè)對(duì)象都與其位置或值以及類(lèi)型相關(guān)聯(lián)。當(dāng)前函數(shù)位于列表頂部，被調(diào)用函數(shù)位于其下方，并且還會(huì)顯示當(dāng)前函數(shù)的所有局部變量的信息。（如圖4-1）
圖4-1
2）、Call Stack + Locals窗口可以通過(guò)菜單欄View->Call Stack WIndows打開(kāi)（如圖4-2-1）或者直接在工具欄中點(diǎn)擊Call Stack Windows的按鈕打開(kāi)（如圖4-2-2）。
圖4-2-1
圖4-2-2
3）、在程序運(yùn)行過(guò)程中Call Stack + Locals窗口是不會(huì)進(jìn)行更新的，只有觸發(fā)斷點(diǎn)或者程序暫停運(yùn)行后，才會(huì)顯示出當(dāng)前情況下處于堆棧中的函數(shù)與對(duì)象。（如圖4-3）
圖4-3
4）、在Call Stack + Locals窗口中一共包含以下的三欄數(shù)據(jù)（如圖4-4）：
（1）、Name：顯示符號(hào)名稱(chēng)。當(dāng)前活動(dòng)的功能或任務(wù)以綠色突出顯示。
（2）、Location/Value：顯示該項(xiàng)的內(nèi)存地址或值，或具有解釋性文本。對(duì)于unsigned char類(lèi)型的項(xiàng)，該字段顯示值和字符。
（3）、Type：顯示對(duì)象類(lèi)型。函數(shù)與其返回類(lèi)型和參數(shù)類(lèi)型相關(guān)聯(lián)。
圖4-4
5）、還在通過(guò)右鍵選中對(duì)應(yīng)的函數(shù)或者變量，跳轉(zhuǎn)到對(duì)應(yīng)函數(shù)的位置或者被調(diào)用的位置。（如圖4-5）
圖4-5
