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電子可靠性 | 案例分析:半導(dǎo)體磨損壽命預(yù)測
發(fā)布時間:2022-06-16

Ansys電子可靠性方案及仿真工具可以幫助電子制造商確定產(chǎn)品還有多久會失效,以及因為什么導(dǎo)致的失效。Ansys Sherlock即可用于預(yù)測產(chǎn)品壽命,在早期設(shè)計階段為電子硬件的組件、電路板和系統(tǒng)層面提供快速而準確的壽命預(yù)測。


一家大型汽車制造商擔心作為PCBA一部分的半導(dǎo)體組件的可靠性,PCBA位于引擎蓋下變速箱控制器內(nèi)。該裝置暴露在極端條件下,例如行駛時產(chǎn)生的熱量和停車時的太陽能加熱產(chǎn)生的高溫和濕度。因此這家汽車制造商要求對潛在高風(fēng)險組件進行磨損壽命預(yù)測分析。


方法

Ansys-DfR(Design for Reliability)解決方案首先使用Ansys Sherlock仿真對構(gòu)成PCBA的單獨半導(dǎo)體組件進行了可靠性分析,包括不同技術(shù)節(jié)點上的多個組件,這些仿真通過加速失效機制的速率,預(yù)測這些組件的使用壽命。


根據(jù)組件的工藝節(jié)點,確定高風(fēng)險組件。這些仿真充分考慮了由于互聯(lián)的電遷移 (EM)、時間相關(guān)的介電擊穿 (TDDB)以及偏壓溫度不穩(wěn)定性 (BTI)和熱載流子注入 (HCI)等晶體管退化現(xiàn)象所導(dǎo)致的集成電路磨損和老化??紤]到IC的運行條件和制造商提供的測試條件,對每個組件開展組件級可靠性分析。


結(jié)果(見下圖)是綜合上述機制得到的每個組件的失效概率和壽命預(yù)測。該分析有助于識別PCBA中易發(fā)生早期磨損故障的組件。



建議

  • 確定是否每個組件都滿足系統(tǒng)的預(yù)期壽命
  • 確定導(dǎo)致早期壽命失效的每個組件的促成因素
  • 建議修改最有可能緩解使用壽命縮短的運行條件/參數(shù)


結(jié)果

根據(jù)此次分析,客戶能夠預(yù)測出現(xiàn)早期壽命退化的組件,并通過調(diào)節(jié)電壓、溫度和工作周期等因素來降低風(fēng)險。


借助Ansys Sherlock,解決更多5G設(shè)計挑戰(zhàn)


文章來源公眾號:Ansys)